1、試驗(yàn)?zāi)康?/div>
研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到機(jī)械作用力影響的變化程度。
2、引用標(biāo)準(zhǔn)
GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍
GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ea: 沖擊試驗(yàn)方法
GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Eb: 碰撞試驗(yàn)方法
GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ga: 恒加速度試驗(yàn)方法
GB2423.7電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ec: 傾跌與翻倒試驗(yàn)方法
GB2423.8電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ed: 自由跌落試驗(yàn)方法
GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Fc: 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)方法
GB2423.11電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Fd: 寬帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)方法一般要求
GB2423.13電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Fdb: 寬帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)方法中再現(xiàn)性
3、條件試驗(yàn)
a.條件試應(yīng)方法30: 沖擊
條件試驗(yàn)方法30沖擊的嚴(yán)酷等級(jí)按表1，并優(yōu)先選用嚴(yán)酷等級(jí)02、03、05。試驗(yàn)采用半正弦沖擊波并在三個(gè)軸線方向均受到三次沖擊。
b.條件試驗(yàn)方法31: 碰撞
條件試驗(yàn)方法31碰撞的嚴(yán)酷等級(jí)按表2
c.條件試驗(yàn)方法32: 傾跌和翻倒
條件試驗(yàn)方法32傾跌和翻倒的嚴(yán)酷等級(jí)按表3
d.條件試驗(yàn)方法33:自由跌落
條件試驗(yàn)方法33自由跌落的嚴(yán)酷等級(jí)按表4.適用于在正常貯存條件下帶包裝的光學(xué)儀器，試樣跌落次數(shù)為2次。若要增加跌落次數(shù)則應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中指明跌落次數(shù)，推薦選用的跌落次數(shù)為:10、20、50。
e.條件試驗(yàn)方法35:恒加速度條件試驗(yàn)方法35恒加速度的嚴(yán)酷等級(jí).
4、有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)包括的內(nèi)容
a.環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，
b.試樣數(shù)量，
C.條件試驗(yàn)方法30和31暴露的軸線和方向，
d.條件試驗(yàn)方法32給出傾斜的邊和試驗(yàn)次數(shù)，
e.條件試驗(yàn)方法33條件試驗(yàn)前后的包裝條件、試驗(yàn)次數(shù)及暴露的邊和角、表面數(shù)，
f.條件試驗(yàn)方法34待暴露的表面，
g.條件試驗(yàn)方法35試樣暴露的軸線，
h.條件試驗(yàn)方法36和37試樣暴露的軸線，
i.條件試驗(yàn)方法36對(duì)每個(gè)特性頻擎的暴露時(shí)間，適合成樣安裝部位的特性頻率，
j.預(yù)處理，
k.初始檢測(cè)的內(nèi)容和范圍。
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